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CIS/IC芯片测试设备
多site并行测试,最多16个;支持标准Tray盘直接传送或移载产品;兼容Jdect tray及2, 3,4tray;有效解决芯片在TRAY和SOCKET内的容差不一问题,芯片移载过程的定位精度和可靠性有保证
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